کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
738659 | 894023 | 2008 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Low-noise real-time measurement of the position of movable structures in MEMS
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
الکتروشیمی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
A low-noise, low-perturbing electrostatic position measurement system for capacitive MEMS sensors is described.A small-amplitude, high-frequency voltage signal is applied between the movable and fixed plates of the sensing capacitance. The resulting current is modulated by the external forces applied to the structure. This high-frequency-shift makes it possible to filter low-noise contributes and minimize readout electrostatic perturbations on the device.Experimental results are reported for a comb-type MEMS test structure with quasi-static, sinusoidal, and impulsive forces. Resolution and long-term stability of nanometric values have been obtained.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Sensors and Actuators A: Physical - Volume 148, Issue 2, 3 December 2008, Pages 401–406
Journal: Sensors and Actuators A: Physical - Volume 148, Issue 2, 3 December 2008, Pages 401–406
نویسندگان
Giacomo Langfelder, Antonio Longoni, Federico Zaraga,