کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7644500 | 1494891 | 2012 | 11 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Evaluation of the effect of six different paint cross section preparation methods on the performances of Fourier Transformed Infrared microscopy in attenuated total reflection mode
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی آنالیزی یا شیمی تجزیه
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Evaluation of the effect of six different paint cross section preparation methods on the performances of Fourier Transformed Infrared microscopy in attenuated total reflection mode Evaluation of the effect of six different paint cross section preparation methods on the performances of Fourier Transformed Infrared microscopy in attenuated total reflection mode](/preview/png/7644500.png)
چکیده انگلیسی
⺠The argon ion milled sample provided the best results in terms of spectral quality. ⺠Spectral quality in CDD sample is locally affected by the superficial morphology. ⺠Spectral quality decreases with time in mapping analyses on KBr samples. ⺠Organic embedding media prevent the visualisation of external protective layers. ⺠Dry polishing may cause the contamination by some abrasive papers and by KBr.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microchemical Journal - Volume 103, July 2012, Pages 79-89
Journal: Microchemical Journal - Volume 103, July 2012, Pages 79-89
نویسندگان
S. Prati, F. Rosi, G. Sciutto, R. Mazzeo, D. Magrini, S. Sotiropoulou, M. Van Bos,