کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
8145264 1524069 2017 20 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
The use of advanced atomic force microscopy for the quantitative nanomechanical characterization of Co-doped ZnO thin films
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه فیزیک و نجوم فیزیک اتمی و مولکولی و اپتیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله
The use of advanced atomic force microscopy for the quantitative nanomechanical characterization of Co-doped ZnO thin films
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Chinese Journal of Physics - Volume 55, Issue 6, December 2017, Pages 2458-2467
نویسندگان
, , , , ,