کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
8146833 1524115 2015 6 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Sensitivity analysis of high temperature spectral emissivity measurement method
ترجمه فارسی عنوان
تجزیه و تحلیل حساسیت از روش اندازه گیری میزان اشباع طیفی با درجه حرارت بالا
کلمات کلیدی
تست لیزر درجه حرارت بالا، اندازه گیری میزان اشعه طیفی، پوشش ها، تجزیه و تحلیل میزان حساسیت،
ترجمه چکیده
مدل کامپیوتری توزیع دما در نمونه در روش اندازه گیری شدت طیف طیفی دمای بالا معرفی می شود. تجزیه و تحلیل حساسیت با استفاده از مدل کامپیوتری برای تعیین اثر پارامترهای مختلف اندازه گیری بر روی دمای نمونه انجام می شود. اثرات ضخامت پوشش اندازه گیری شده و مرجع، اندازه گیری پوشش اندازه گیری شده و دمای سطح نمونه مورد بررسی قرار گرفته است. استفاده از تفاوت دما بین سطح پوشش مرجع و رابط مرجع و پوشش های اندازه گیری شده برای عدم اطمینان کامل تابش در پوشش اندازه گیری نشان داده شده است.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه فیزیک و نجوم فیزیک اتمی و مولکولی و اپتیک
پیش نمایش مقاله
تجزیه و تحلیل حساسیت از روش اندازه گیری میزان اشباع طیفی با درجه حرارت بالا
چکیده انگلیسی
Computer model of temperature distribution in the sample in high temperature spectral emissivity measurement method is introduced. Sensitivity analysis is performed using computer model to determine the effect of various measurement method parameters on the sample temperatures. The effects of measured and reference coating thicknesses, measured coating emissivity and sample surface temperature are analyzed. The utilization of temperature difference between reference coating surface and the interface of reference and measured coatings for total emissivity uncertainty of measured coating is demonstrated.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Infrared Physics & Technology - Volume 71, July 2015, Pages 217-222
نویسندگان
, , , ,