Dimensionality crossover in critical behaviour of ultrathin ferromagnetic films

ما مدل را پیشنهاد می دهیم که در اثر انعکاسی نانوذرات مغناطیسی کریستالی در فیلم های مغناطیسی نازک مورد توجه قرار می گیرد. ابعاد بعدی از تک لایه دو بعدی به سیستم سه بعدی در فیلمهای مغناطیسی چند لایه با روش مونت کارلو مورد بررسی قرار گرفته است. پوسته پوسته شدن اندازه ی محدود برای تعیین ویژگی های بحرانی به عنوان تابع ضخامت فیلم استفاده می شود. در حال گذار به فاز مسطح متوسط ​​است.