کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
846699 909211 2016 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Investigation of scanning electron beam parameters in terms of the disk-charged approximation for the sample potential
ترجمه فارسی عنوان
بررسی پارامترهای پرتو الکترونی اسکن از نظر تقریب دیسک شارژ شده برای پتانسیل نمونه
کلمات کلیدی
میکروسکوپ الکترونی اسکن؛ جریان پرتو تصویر آینه الکترونی ؛ شارژهای به دام افتاده؛ پتانسیل دیسک شارژ شده
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه سایر رشته های مهندسی مهندسی (عمومی)
چکیده انگلیسی

A theoretical investigation of electron behavior inside the scanning electron microscope chamber for the mirror image operation mode has been carried out. The equation of motion of this head-incident electron is derived in terms of the energy conservation law. By solving this equation the influence of beam parameters are investigated. Results have shown that a good comprehend and interpret for the physical behaviors of scanning electron can be extracted. It is found that the beam current may be used to control mirror images only in the lower values of scanning potential. Also the size of scanning beam has no effect on mirror image as long as the beam current is kept fixed.

ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Optik - International Journal for Light and Electron Optics - Volume 127, Issue 17, September 2016, Pages 6978–6981
نویسندگان
, , ,