کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
865560 | 909674 | 2009 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
ILT Approach for Compensating 3-D Mask Effects
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
مهندسی (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
As mask features scale to smaller dimensions, the so-called “3-D mask effects” which have mostly been neglected before, become important. This paper properly models the 3-D thick mask effects, and then analyses the object-based inverse lithography technique using a simulated annealing algorithm to determine the mask shapes that produce the desired on-wafer results. Evaluations against rigorous simulations show that the synthesized masks provide good image fidelity up to 0.94, and this approach gives improved accuracy and faster results than existing methods.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Tsinghua Science & Technology - Volume 14, Issue 1, February 2009, Pages 68-74
Journal: Tsinghua Science & Technology - Volume 14, Issue 1, February 2009, Pages 68-74
نویسندگان
Xiong (ç ä¼), Zhang (å¼ è¿å®), Min-Chun Tsai, Wang (ç ç), Yu (ä½å¿å¹³),