![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Predicting reflections of thin coatings
Keywords: 42.70 جک; 78.20; 78.66-w; 42.25Fx; 42.25 Bs; 42.70 Jk; 68.35bm[B] Roughness; [B] Atomic force microscopy; [B] Ellipsometry; [C] Grinding