Keywords: System reliability modeling; Accelerated life testing (ALT); Thermal fatigue; Thermal Cyclic Test (TCT); One-shot unit; Generalized Birnbaum-Saunders (GBS) distribution;
مقالات ISI (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Keywords: Accelerated Life Testing (ALT); Highly Accelerated Life Testing (HALT); Nano ceramic capacitors; Non-parametric method; Reliability; Time to failure (TTF)
Keywords: Synthetic benchmark circuits (SBC); Accelerated life testing (ALT); Field programmable gate arrays (FPGA); Genetic algorithms (GA); Particle swarm optimization (PSO);
Design of PH-based accelerated life testing plans under multiple-stress-type
Keywords: Accelerated life testing (ALT); Reliability predication; ALT plans; Proportional hazards model; Sensitivity analysis
Competing failure modes in accelerated life testing
Keywords: Competing risks; Accelerated life testing (ALT); Bayesian inference; Failure rate