![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Resonant X-ray diffraction of α-phase Mo0.15Ru0.85Si and crystal stability calculation in Mo–Ru–Si system (FeSi and CsCl types)
Keywords: B. ساختار الکترونیکی فلزات و آلیاژها; A. Silicides, various; B. Crystallography; B. Electronic structure of metals and alloys; F. Diffraction