![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Carrier-diffusion corrected J0-analysis of charge carrier lifetime measurements for increased consistency
Keywords: محدود شدن باند شکاف; Lifetime; Silicon; Band-gap narrowing; Dark saturation current; QSSPC