![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Charge reconstruction of the DAMPE Silicon-Tungsten Tracker: A preliminary study with ion beams
Keywords: وضوح شارژ; DAMPE; STK; Silicon microstrip detector; Charge reconstruction; Charge resolution;