Keywords: Soft error; Soft Error Rate (SER); Combinational circuit; Partitioning; Logical masking; Sub-circuit;
مقالات ISI (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
An analysis of root functions-A subclass of the Impossible Class of Faulty Functions (ICFF)
Keywords: Boolean functions; Stuck-at fault; Combinational circuit;
Fast problem-size-independent parallel prefix circuits
Keywords: Combinational circuit; Depth-size optimal; Parallel algorithms; Prefix operation; Problem-size independent; Waist-size optimal