![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Unified view on energy and electrical failure of the short-circuit operation of IGBTs
Keywords: رشته های فعلی; Current filaments; Safe operating area; Thermal destruction; Current destruction; Current crowding; Thermal runaway; Overvoltage; Filament movement;