![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Analysis of shear stress promoting void evolution behavior in an α/β Ti alloy with fully lamellar microstructure
Keywords: توسعه خسارت; Ti-6Al-4V; Lamellar microstructure; X-ray tomography; Shear behavior; Damage development;