![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Keywords: نیمه هادی های تکامل یافته; Finite volume method; Flux discretization; Scharfetter-Gummel scheme; Fermi-Dirac statistics; Degenerate semiconductors; van Roosbroeck system; Semiconductor device simulation; Nonlinear diffusion; Diffusion enhancement;