Keywords: طول عمر دستگاه; A; electron acceptor; acac; acetylacetonate; Alq3; tris(8-hydroxyquinolinato)aluminum; BAlq; bis(2-methyl-8-quinolinolato)-mono(4-phenylphenolato)aluminum; BCP; 2,9-dimethyl-4,7-diphenyl-1,10-phenanthroline; Bepp2; bis[2(2â²-hydroxyphenyl)pyridine]beryll
مقالات ISI طول عمر دستگاه (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Keywords: طول عمر دستگاه; OLED; Charge accumulation; Triplet-polaron annihilation; Device lifetime; Degradation
Keywords: طول عمر دستگاه; Organic photovoltaic; Atomic layer deposition; Encapsulation coating; Device lifetime
Keywords: طول عمر دستگاه; Phosphonic acid self-assembled monolayers; Organic photovoltaic devices; SAM stability; Device lifetime;
Materials depth distribution and degradation of a FIrpic based solution-processed blue OLED
Keywords: طول عمر دستگاه; OLED; Material degradation; Device lifetime; Interface studies; Solution processing;
Comparison of the carrier mobility, unipolar conduction, and light emitting characteristics of phosphorescent host–dopant system
Keywords: طول عمر دستگاه; Phosphorescent; Mobility; Hole current; Charge trapping; Device lifetime
From defects creation to circuit reliability – A bottom-up approach (invited)
Keywords: طول عمر دستگاه; Channel cold carriers; Hot-Carrier degradation; Ultra-thin gate-oxide; Interface traps generation; Border traps; Trapped oxide charges; Device lifetime; Multi vibrational excitation; Bias temperature stress; Design-in Reliability; Spice models