Keywords: قابلیت اطمینان دی الکتریک; High aspect ratio through silicon via; Sidewall roughness; Atom Layer Deposition; Dielectric reliability; Local field enhancement; Bimodal distribution
مقالات ISI قابلیت اطمینان دی الکتریک (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Analysis of dielectric breakdown in CoFeB/MgO/CoFeB magnetic tunnel junction
Keywords: قابلیت اطمینان دی الکتریک; MTJs; Dielectric reliability; MTJ breakdown
Dielectric and diffusion barrier multilayer for Cu(In,Ga)Se2 solar cells integration on stainless steel sheet
Keywords: قابلیت اطمینان دی الکتریک; CIGS; Dielectric; Barrier layer; Dielectric reliability; Stainless steel; Breakdown voltage; Planarization;
Study on electrical characteristics and reliability of fluorinated HfO2 for HKMG
Keywords: قابلیت اطمینان دی الکتریک; HfO2; Fluorine; Plasma; Dielectric reliability; Trap
Study of nitrogen impact on VFB–EOT roll-off by varying interfacial SiO2 thickness
Keywords: قابلیت اطمینان دی الکتریک; VFB roll-off; Nitrogen; Charge pumping; NBTI; Dielectric reliability
Intrinsic and extrinsic reliability of a serial connection of capacitors
Keywords: قابلیت اطمینان دی الکتریک; Dielectric reliability; Metal insulator metal capacitor; Stacked capacitors; Serial connection of capacitors; Reduction of early fail risk; Al2O3
Self-aligned multi-level air gap integration
Keywords: قابلیت اطمینان دی الکتریک; Self-aligned air gaps; Plasma damaged SiOC; Capacitance reduction; Dielectric reliability; Via reliability
Challenges in the implementation of low-k dielectrics in the back-end of line
Keywords: قابلیت اطمینان دی الکتریک; ultra low-k materials; porosity; mechanical integrity; thermal conductivity; pore sealing; plasma damage; dielectric reliability; electromigration;