اندازه گیری های پراکندگی و پراکندگی

در این صفحه تعداد 45 مقاله تخصصی درباره اندازه گیری های پراکندگی و پراکندگی که در نشریه های معتبر علمی و پایگاه ساینس دایرکت (Science Direct) منتشر شده، نمایش داده شده است. برخی از این مقالات، پیش تر به زبان فارسی ترجمه شده اند که با مراجعه به هر یک از آنها، می توانید متن کامل مقاله انگلیسی همراه با ترجمه فارسی آن را دریافت فرمایید.
در صورتی که مقاله مورد نظر شما هنوز به فارسی ترجمه نشده باشد، مترجمان با تجربه ما آمادگی دارند آن را در اسرع وقت برای شما ترجمه نمایند.
مقالات ISI اندازه گیری های پراکندگی و پراکندگی (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: اندازه گیری های پراکندگی و پراکندگی; Diffraction and scattering measurements; Rayleigh scattering; Nanoparticles, colloids and quantum structures; Colloids; Oxide glasses; Aluminosilicates; Sol–gel, aerogel and solution chemistry; Aerogels; Sol–gels (xerogels); Solution chemistry; Water; Hyd
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: اندازه گیری های پراکندگی و پراکندگی; Diffraction and scattering measurements; Raman scattering; Glass formation; Glass transition; Glasses; Nuclear magnetic (and quadrupole) resonance; Mass spectroscopy; Modeling and simulation; Optical properties; FTIR measurements; Oxide glasses; Silicates
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: اندازه گیری های پراکندگی و پراکندگی; 61.43.Dq; 61.05.cp; 81.70.PgAmorphous metals; Metallic glasses; Alloys; Diffraction and scattering measurements; X-ray diffraction; Microscopy; Scanning electron microscopy; TEM/STEM; Thermal properties; Calorimetry; Enthalpy relaxation; Glass transition;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: اندازه گیری های پراکندگی و پراکندگی; Diffraction and scattering measurements; Synchrotron radiation; X-ray diffraction; Glass formation; Glass transition; Phases and equilibria; Structure; Fluctuations; X-rays; X-ray diffraction6110.Nz; 61.43.Fs; 61.72.Qq; 64.60.70.Ja.Pf
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: اندازه گیری های پراکندگی و پراکندگی; 81.20.Fw; 82.33.Ln; 81.05.−t; 81.05.RmChemical properties; Ion exchange; Diffraction and scattering measurements; X-ray diffraction; Measurement techniques; Optical spectroscopy; Scanning electron microscopy; Microstructure; Porosity; Powders; Optical pro
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: اندازه گیری های پراکندگی و پراکندگی; 81.05.Kf; 81.05.Je; 81.20.VjCrystallization; Glass ceramics; Nucleation; Diffraction and scattering measurements; Glass formation; Glass transition; Glasses; SEM S100; Microscopy; Scanning electron microscopy; Microstructure; Oxide glasses; Borates; Therm
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: اندازه گیری های پراکندگی و پراکندگی; 68.35.Ct; 68.55.−ag; 72.40.+w; 73.40.−cAmorphous semiconductors; Silicon; Solar cells; Devices; Heterojunctions; Photovoltaics; Diffraction and scattering measurements; X-ray diffraction; Films and coatings; Chemical vapor deposition; Plasma deposition; M
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: اندازه گیری های پراکندگی و پراکندگی; 68.18.Jk; 81.05.Kf; Amorphous metals; metallic glasses; Crystals; Nanocrystals; Quasicrystals; Diffraction and scattering measurements; X-ray diffraction; Measurement techniques; STEM/TEM;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: اندازه گیری های پراکندگی و پراکندگی; 81.05.Dz; 81.07.Bc; 52.70.Kz; 61.10.NzAmorphous semiconductors; II–VI semiconductors; Diffraction and scattering measurements; X-ray diffraction; Films and coatings; Sputtering; Measurement techniques; Optical spectroscopy; Microstructure; Microcrystallin
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: اندازه گیری های پراکندگی و پراکندگی; 81.15.Gh; 85.35.−p; 73.63.BdCrystallization; Crystal growth; Devices; Thin film transistors; Diffraction and scattering measurements; Raman scattering; Electrical and electronic properties; Conductivity; Films and coatings; Chemical vapor deposition; Plas
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: اندازه گیری های پراکندگی و پراکندگی; 87.50.W−Biological systems; Bioglass; Crystallization; Nucleation; Crystals; Nanocrystals; Diffraction and scattering measurements; Raman Scattering; X-ray diffraction; Magnetic properties; Nuclear magnetic (and quadrupole) resonance; Measurement techniqu
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: اندازه گیری های پراکندگی و پراکندگی; 81.07.−b; 81.07.Bc; 81.15.−z; 78.20.−eAmorphous semiconductors; III–V semiconductors; II–VI semiconductors; Chemical properties; Electrochemical properties; Devices; Sensors; Diffraction and scattering measurements; UPS/XPS; Films and coatings; Chemical v
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: اندازه گیری های پراکندگی و پراکندگی; 61.43.Fs; 65.60.+a; 64.70.Pf; 61.10.NzCrystallization; Glass-ceramics; Nucleation; Diffraction and scattering measurements; X-ray diffraction; Oxide glasses; Alkali silicates; Thermal properties; Calorimetry; X-rays
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: اندازه گیری های پراکندگی و پراکندگی; 61.20.−p; 66.10.−x; 66.30.−hLiquid alloys and liquid metals; Diffraction and scattering measurements; Neutron diffraction/scattering; Diffusion and transport; Modeling and simulation; Structure
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: اندازه گیری های پراکندگی و پراکندگی; 67.55.Jd; 67.40.Fd; 61.10.Eq; 63.50.+xAcoustic properties and phonons; Acoustic properties; Liquid alloys and liquid metals; Diffraction and scattering measurements; Brillouin scattering; Neutron diffraction/scattering; Sychrotron radiation; X-rays
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: اندازه گیری های پراکندگی و پراکندگی; 61.12.Ld; 61.43.Bn; 61.43.Fs; Diffraction and scattering measurements; Neutron diffraction/scattering; Modeling and simulation; Monte Carlo simulations; Oxide glasses; Borosilicates; Structure; Medium-range order; Short-range order;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: اندازه گیری های پراکندگی و پراکندگی; 61.12.Ex; 61.25.Mv; 64.75.+g; Liquid alloys and liquid metals; Diffraction and scattering measurements; Neutron diffraction/scattering; Modeling and simulation; Phases and equilibria; Structure; Medium-range order; Short-range order; X-rays; X-ray absorpt
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: اندازه گیری های پراکندگی و پراکندگی; 61.10.Nz; 61.10.Ht; 61.12.Ld; 72.80.NgCrystallization; Crystal growth; Diffraction and scattering measurements; Neutron diffraction/scattering; Sychrotron radiation; X-ray diffraction; Electrical and electronic properties; Fast ion conduction; Glasses; In
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: اندازه گیری های پراکندگی و پراکندگی; 91.35.−x; 61.12.−q; 61.25.Mv; 61.20.JaLiquid alloys and liquid metals; Diffraction and scattering measurements; Neutron diffraction/scattering; Geology; Modeling and simulation; Monte Carlo simulation; Medium-range order; Short-range order
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: اندازه گیری های پراکندگی و پراکندگی; 61.25.Mv; 62.20.−x; 63.50.+xAcoustic properties; Phonons; Liquid alloys and liquid metals; Diffraction and scattering measurements; Brillouin scattering; Neutron diffraction/scattering; Electrical and electronic properties; Geology; Modeling and simulatio