![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
MnxGe1âx thin layers studied by TEM, X-ray absorption spectroscopy and SQUID magnetometry
Keywords: پراش الکترونی جامد; Metal-semiconductor interfaces; Manganese; Germanium; Electron microscopy; Electron-solid diffraction; X-ray absorption spectroscopy; Soft X-ray photoelectron spectroscopy; Magnetic measurements;