![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Development of crack free BLT thick films by chemical solution deposition technique
Keywords: حافظه فیدر; BLT thin film; Sol–gel methodology; Ferroelectric memory; Remnant polarization; Leakage current