Keywords: اشعه یون اشباع متمرکز شده; Atomic force microscopy; Harmonic imaging; Cantilever design; Material contrast; Focused ion beam etching;
مقالات ISI اشعه یون اشباع متمرکز شده (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Keywords: اشعه یون اشباع متمرکز شده; Photoemission; Imaging; PEEM; Time resolved; Spin resolved; ToF momentum microscope; Spin filter; 2PPE; two-photon photoemission; ARPES; angular resolved photoemission spectroscopy; BBO; beta-barium borate; BFP; backfocal plane; CCD; charge-coupled device
Fabrication of highly reflective gratings in 1.5 μm semiconductor lasers using focused ion beam-based etching
Keywords: اشعه یون اشباع متمرکز شده; Focused ion beam etching; Inductively coupled plasma etching; Laser diodes; Semiconductor/air gratings
Controlled fabrication of nano-scale double barrier magnetic tunnel junctions using focused ion beam milling method
Keywords: اشعه یون اشباع متمرکز شده; 73.40.Gk; 75.60.−d; 75.70.Ak; 75.70.−iNano-scale; Double barrier magnetic tunnel junction (DNMTJ); Focused ion beam etching; Tunneling magnetoresistance (TMR)
Planar S-F-S Josephson junctions made by focused ion beam etching
Keywords: اشعه یون اشباع متمرکز شده; 74.50.+r; 74.25.Fy; 74.80.Dm; 75.70.Cn; Josephson junctions; Superconductor-ferromagnet-superconductor structures; Focused ion beam etching;