![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Z-scan studies of third-order nonlinear optical and optical limiting properties of chalcones doped Poly(methyl methacrylate) thin films for visible laser protection
Keywords: تجزیه و تحلیل سطح هیرشفلد; Chalcone derivatives; Hirshfeld surface analyses; Nonlinear optical materials; PMMA; Thin films; Optical limiting;