![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Advanced processing of EBSD data to distinguish the complex microstructure evolution of a Cu-Ni-Si alloy induced by fatigue
Keywords: شکل قطب معکوس; ECCI; Electron Channeling Contrast Imaging; Îεt; total strain variation; EBSD; Electron Back-scattered Diffraction; FSE; Forward Scattered Electrons; GOS; Grain Orientation Spread; GROD; Grain Reference Orientation Deviation; IPF; Inverse Pole Figure; I