![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Scattering of light molecules from thin Al2O3 films
Keywords: تصویربرداری ذرات خنثی; 68.49.sf; 73.61.Ng; 34.50.-s; 34.70.+eAl2O3; Sapphire; Neutral particle imaging; Particle scattering; Surface ionization