![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Defect generation in non-nitrided and nitrided sputtered gate oxides under post-irradiation Fowler–Nordheim constant current stress
Keywords: اکسید نیترویده; Silicon oxide; Nitrided oxide; Sputtered oxide; Gamma radiation; Oxide defects