Keywords: تصویربرداری غیر مخرب; Anisotropic thermal conductivity; Non-destructive imaging; Isothermal contour; Photo-thermo-mechanical lock-in thermography (PTM-LIT);
مقالات ISI تصویربرداری غیر مخرب (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Keywords: تصویربرداری غیر مخرب; Nanoparticle; Retention; Transport; Modeling; MRI; Non-destructive imaging;
Keywords: تصویربرداری غیر مخرب; Non-destructive imaging; Apple; Convective; Drying; Tunnel; Dehydration
Keywords: تصویربرداری غیر مخرب; Lead membrane module; Non-destructive imaging; Reverse osmosis (RO); Desalination; Water reuse;
Keywords: تصویربرداری غیر مخرب; Rembrandt; Smalt; X-ray fluorescence scanning; Hyperspectral imaging; Non-destructive imaging; Saul and David;
Non-destructive imaging of defects in Ag-sinter die attach layers - A comparative study including X-ray, Scanning Acoustic Microscopy and Thermography
Keywords: تصویربرداری غیر مخرب; Non-destructive imaging; Power electronics; Silver-sintering technology; Scanning acoustic microscopy; Lock-in thermography; X-ray;
Comparison of continuous-wave (CW) and tone-burst (TB) excitation modes in vibro-acoustography: Application for the non-destructive imaging of flaws
Keywords: تصویربرداری غیر مخرب; 43.25.+y; 43.40.+s; 43.58.+zDynamic radiation force; Flaw detection; Non-destructive imaging; Vibro-acoustography
Three-dimensional visualization and quantification of non-aqueous phase liquid volumes in natural porous media using a medical X-ray Computed Tomography scanner
Keywords: تصویربرداری غیر مخرب; Non-aqueous phase liquids; X-ray Computed Tomography; Non-destructive imaging; Gasoline; Tetrachloroethene
Photo-carrier radiometry of semiconductors: A novel powerful optoelectronic diffusion-wave technique for silicon process non-destructive evaluation
Keywords: تصویربرداری غیر مخرب; Photocamer radiometry; Charge corners; Radiative recombination; Electronic defects; Subsurface damage; Silicon wafers; Non-destructive imaging; Transport properties