![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Keywords: PAT، تکنولوژی تحلیلی روند; 3D ORM, 3D optical reflectance measurement; XRD, X-ray diffractometry; APAS, advanced particle analyzing system; PAT, process analytical technology; SEM, scanning electron microscopy; ATR, attenuated total reflectance; DSC, differential scanning calorimet