![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Surface investigations of ZnBeMnSe mixed crystals by means of the piezoelectric spectroscopy and the AFM technique
Keywords: تشخیص پیزوالکتریک; A2B6 semiconductors; AFM technique; Diluted magnetic semiconductors; Mixed crystals; Piezoelectric detection; Surface of semiconductors;