![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
A Quasi-Concertina force-displacement MEMS probe for measuring biomechanical properties
Keywords: پیزورستیستورها; Microelectromechanical systems (MEMS); Piezoresistors; Quasi-concertina (QC); Atomic force microscopy (AFM); Force-displacement (F-D) sensors; Biomechanics of cells;