![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Structural characterization of the CeO2/Gd2O3 mixed system by synchrotron X-ray diffraction
Keywords: پراش اشعه ایکس; Powder X-ray diffraction; Rare earth; Mixed oxide; Rietveld method;