Keywords: Glassy carbon; Ion implantation; Heat treatment; Rutherford backscattering spectroscopy (RBS); Raman spectroscopy
مقالات ISI (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Structural, morphological and electronic study of CVD SnO2:Sb films
Keywords: Oxides; Thin films; Chemical vapour deposition (CVD); Atomic force microscopy (AFM); Rutherford backscattering spectroscopy (RBS); Electrical properties
Hot-wire chemical vapor deposition of WO3−x thin films of various oxygen contents
Keywords: Oxides; Nanostructures; Chemical vapour deposition (CVD); Rutherford backscattering spectroscopy (RBS)
Structure of ultra-thin Ti film on the Al(001) surface
Keywords: Low-energy electron diffraction (LEED); Low-energy ion scattering (LEIS); Rutherford backscattering spectroscopy (RBS); Shadow cone; Sodium alanate; Density Funtional Theory (DFT); Al; Ti;
Simple and accurate spectra normalization in ion beam analysis using a transmission mesh-based charge integration
Keywords: 82.80.Yc; 68.49.SfBeam charge normalization; Rutherford backscattering spectroscopy (RBS); Elastic recoil detection analysis (ERDA); Ion implantation
Temperature dependent diffusion and epitaxial behavior of oxidized Au/Ni/p-GaN ohmic contact
Keywords: GaN; Ohmic contact; Transmission line method (TLM); Rutherford backscattering spectroscopy (RBS); Synchrotron X-ray diffraction (XRD)
Ion backscattering study of ultra-thin oxides: Al2O3 and AlHfOx films on Si
Keywords: 78.30.Am; 82.80.Yc; 85.30.Tv; 61.85.+p; Rutherford backscattering spectroscopy (RBS); Channeling; Semiconductor devices; Ultra-thin insulator; High-k materials; Aluminum oxide; Hafnium oxide; Atomic layer deposition (ALD);