![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Keywords: توموگرافی اشعه ایکس نرم; 3D; three-dimensional; cryoEM; cryo-electron microscopy; CCD; charged-coupled device; CEMOVIS; cryo-electron microscopy of vitreous sections; CET; cryo-electron tomography; CLEM; correlative light electron microscopy; CMOS; complementary metal oxide semic