دانلود مقالات ISI درباره بیضه سنج طیف سنجی + ترجمه فارسی

رسوب پرتوهای مولکولی پلییدیدیل سیلوکسان با انعطاف پذیری بالا برای فیلم های نازک در اعمال دی الکتریک

Molecular beam deposition of high-permittivity polydimethylsiloxane for nanometer-thin elastomer films in dielectric actuators

Keywords: بیضه سنج طیف سنجی; Dielectric elastomer actuator; Chloropropyl-functional; Vinyl-terminated siloxane co-oligomer; Thermal evaporation; Ultra-violet light curing; Atomic force microscopy; Indentation test; Surface roughness; Spectroscopic ellipsometer

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2016 سفارش ترجمه

Spectroscopic ellipsometer study of laser ablation wavelength dependent growth kinetics of Ag nanoislands: An insight to potential plasmonic applications

Keywords: بیضه سنج طیف سنجی; Plasmonics; Modified-Yamaguchi's model; Spectroscopic ellipsometer; Polarized reflection; Growth of metallic nanoislands;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 33 صفحه سال انتشار : 2018 سفارش ترجمه

Spectroscopic ellipsometry investigation of microcrystalline fractions in p-type hydrogenated microcrystalline silicon oxide (p-μc-SiOx:H) ultra-thin films

Keywords: بیضه سنج طیف سنجی; Spectroscopic ellipsometer; Microcrystalline silicon oxide; Characterization; Ultra-thin film; VHF-PECVD;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2017 سفارش ترجمه

Elemental, structural and optical properties of nanocrystalline Zn1−xCuxSe films deposited by close spaced sublimation technique

Keywords: بیضه سنج طیف سنجی; X-ray diffraction; Morphology; Dielectric constant; Spectroscopic ellipsometer; Energy band gap;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2017 سفارش ترجمه

Structural and optical analyses of polycrystalline Zn1−xSbxSe thin films prepared by resistive heating technique

Keywords: بیضه سنج طیف سنجی; Thermal evaporation; X-ray diffraction (XRD); Raman spectroscopy; Optical band gap; Spectroscopic ellipsometer

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2016 سفارش ترجمه

Structural and optical properties of copper enriched ZnSe thin films prepared by closed space sublimation technique

Keywords: بیضه سنج طیف سنجی; Closed space sublimation; Structural; Optical; Band gap; Spectroscopic ellipsometer;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2013 سفارش ترجمه

Influence of the substrate bias voltage on the physical properties of dc reactive sputtered Ta2O5 films

Keywords: بیضه سنج طیف سنجی; Ta2O5 dielectric films; Magnetron sputtering; Spectroscopic ellipsometer; Dielectric loss

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2013 سفارش ترجمه

Effects of physical growth conditions on the structural and optical properties of sputtered grown thin HfO2 films

Keywords: بیضه سنج طیف سنجی; HfO2; Reactive DC sputtering; XPS depth profiling; Spectroscopic ellipsometer; FTIR; XRD

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Spectroscopic ellipsometer studies on new cyanine dye in Langmuir–Blodgett films

Keywords: بیضه سنج طیف سنجی; Langmuir–Blodgett film; Spectroscopic ellipsometer; Lorenz oscillator model; HQ dye

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Ellipsometric investigation of optical constant and energy band gap of Zn1−xMnxSe/GaAs (1 0 0) epilayers

Keywords: بیضه سنج طیف سنجی; Hot-wall epitaxy; ZnMnSe; Spectroscopic ellipsometer; Pseudodielectric constant;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه