![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
X-ray powder diffraction, spectroscopic study, dielectric properties and thermal analysis of new doped compound TiGa0.67Te2.33O8
Keywords: اکسید تلوریم; Crystal structure; X-ray diffraction; Dielectric properties; Tellurium oxide; Mixed valence;