![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Fabrication and characterization of CaCuO2/CaCu2O3 thin films with enhanced third-order nonlinear properties
Keywords: تکنیک Z-scan; CaCuO2/CaCu2O3 thin films; Quartz substrate; Magnetron sputtering; Z-scan technique; Third-order nonlinear susceptibility;