کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
10156489 1666398 2018 11 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Advances in X-ray optics: From metrology characterization to wavefront sensing-based optimization of active optics
ترجمه فارسی عنوان
پیشرفت در اپتیک اشعه ایکس: از ویژگی های مترولوژی به بهینه سازی موج اپتیکال فعال مبتنی بر حسگر موج
کلمات کلیدی
ترجمه چکیده
این مقاله به بررسی پیشرفت های اخیر در اپتیک اشعه ایکس می پردازد. این در مورد شبیه سازی، تشخیص، مترولوژی و لنزهای تطبیقی ​​مربوط می شود، ارائه یک نظری درباره نقش اپتیک اشعه ایکس در گذشته های اخیر. همچنین بر پیشرفت های آینده یکی از فعال ترین زمینه های علوم اشعه ایکس برخوردار خواهد بود.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه فیزیک و نجوم ابزار دقیق
پیش نمایش مقاله
پیشرفت در اپتیک اشعه ایکس: از ویژگی های مترولوژی به بهینه سازی موج اپتیکال فعال مبتنی بر حسگر موج
چکیده انگلیسی
This article explores the recent developments in X-ray optics. It touches on simulations, diagnostics, metrology and adaptive optics, giving an overview of the role X-ray optics have played in the recent past. It will also touch on future developments for one of the most active field in the X-ray science.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment - Volume 907, 1 November 2018, Pages 105-115
نویسندگان
, , , , ,