کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10156489 | 1666398 | 2018 | 11 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Advances in X-ray optics: From metrology characterization to wavefront sensing-based optimization of active optics
ترجمه فارسی عنوان
پیشرفت در اپتیک اشعه ایکس: از ویژگی های مترولوژی به بهینه سازی موج اپتیکال فعال مبتنی بر حسگر موج
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
ترجمه چکیده
این مقاله به بررسی پیشرفت های اخیر در اپتیک اشعه ایکس می پردازد. این در مورد شبیه سازی، تشخیص، مترولوژی و لنزهای تطبیقی مربوط می شود، ارائه یک نظری درباره نقش اپتیک اشعه ایکس در گذشته های اخیر. همچنین بر پیشرفت های آینده یکی از فعال ترین زمینه های علوم اشعه ایکس برخوردار خواهد بود.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
ابزار دقیق
چکیده انگلیسی
This article explores the recent developments in X-ray optics. It touches on simulations, diagnostics, metrology and adaptive optics, giving an overview of the role X-ray optics have played in the recent past. It will also touch on future developments for one of the most active field in the X-ray science.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment - Volume 907, 1 November 2018, Pages 105-115
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment - Volume 907, 1 November 2018, Pages 105-115
نویسندگان
Daniele Cocco, Mourad Idir, Daniel Morton, Lorenzo Raimondi, Marco Zangrando,