کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10364747 | 871793 | 2013 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Quantum size impacts on the threshold voltage in nanocrystalline silicon thin film transistors
ترجمه فارسی عنوان
اندازه کوانتومی بر روی ولتاژ آستانه در ترانزیستورهای نازک سیلیکون نانوبلوری اثر می گذارد
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 53, Issue 12, December 2013, Pages 1886-1890
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 53, Issue 12, December 2013, Pages 1886-1890
نویسندگان
Ling-Feng Mao,