کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
10365713 872166 2014 14 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
High-κ dielectric breakdown in nanoscale logic devices - Scientific insight and technology impact
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
High-κ dielectric breakdown in nanoscale logic devices - Scientific insight and technology impact
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 54, Issue 5, May 2014, Pages 847-860
نویسندگان
, , ,