دانلود رایگان مقاله ISI : اشعه ماوراء بنفش آلیاژ رسانای عمیق توسط اسپکتروسکوپ پرتوهای یون گاز خوشه ای و طیف سنجی فوتوالکترون اشعه ایکس

Depth profiling organic light-emitting devices by gas-cluster ion beam sputtering and X-ray photoelectron spectroscopy

Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Organic Electronics - Volume 15, Issue 11, November 2014, Pages 2988-2992

Nicholas C. Erickson, Sankar N. Raman, John S. Hammond, Russell J. Holmes,