کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10631122 | 991540 | 2012 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Effect of vacuum annealing on charge transport and trapping in a-Si1 â xCx:H/c-Si heterostructures
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Effect of vacuum annealing on charge transport and trapping in a-Si1 â xCx:H/c-Si heterostructures Effect of vacuum annealing on charge transport and trapping in a-Si1 â xCx:H/c-Si heterostructures](/preview/png/10631122.png)
چکیده انگلیسی
⺠The processes of charge transport in amorphous Si1-xCx:H films have been evaluated. ⺠Annealing at 450 °C improves the rectifying properties. ⺠Annealing at 650  °C leads to hydrogen effusion from the a-Si1-xCx:H film. ⺠An energy band diagram of the a-Si1-xCx:H/p-Si structure is proposed.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Non-Crystalline Solids - Volume 358, Issue 2, 15 January 2012, Pages 168-173
Journal: Journal of Non-Crystalline Solids - Volume 358, Issue 2, 15 January 2012, Pages 168-173
نویسندگان
Y.V. Gomeniuk, S.O. Gordienko, A.N. Nazarov, A.V. Vasin, A.V. Rusavsky, V.G. Stepanov, V.S. Lysenko, D. Ballutaud, S. Ashok,