کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10634061 | 993305 | 2012 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Microstructure of free-standing epitaxial Ni-Mn-Ga films before and after variant reorientation
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
We investigate the effect of stress-induced reorientation on the martensitic microstructure of free-standing epitaxial Ni-Mn-Ga films. Scanning electron microscopy and high-resolution transmission electron microscopy reveal that the films exhibit coexisting phases of 14Â M and NM martensite after release from the MgO(1Â 0Â 0) substrate. After superplastic straining the film by 12% by applying tensile stress along a [0Â 0Â 1] direction of the Ni-Mn-Ga unit cell, the corresponding crystal structure is identified to be detwinned NM martensite.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Scripta Materialia - Volume 66, Issue 8, April 2012, Pages 566-569
Journal: Scripta Materialia - Volume 66, Issue 8, April 2012, Pages 566-569
نویسندگان
S.R. Yeduru, A. Backen, C. Kübel, D. Wang, T. Scherer, S. Fähler, L. Schultz, M. Kohl,