کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
10653100 1002724 2011 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Understanding as well as characterization of erratic interspike dynamics in semiconductor devices
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد دانش مواد (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Understanding as well as characterization of erratic interspike dynamics in semiconductor devices
چکیده انگلیسی
► Observations of nonlinear/erratic spiking fluctuations in a layered III-V semiconductor. ► Characterizing nonstationary polar optical phonon scattering. ► The understanding of the origin of electronic noise via detrended fluctuation analysis.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Solid State Communications - Volume 151, Issue 2, January 2011, Pages 135-138
نویسندگان
,