کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10716519 | 1027565 | 2005 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Silicon strip detector applied to X-ray diffractometer: Angular resolution and counting rate
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
ابزار دقیق
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Silicon strip detector applied to X-ray diffractometer: Angular resolution and counting rate Silicon strip detector applied to X-ray diffractometer: Angular resolution and counting rate](/preview/png/10716519.png)
چکیده انگلیسی
The silicon strip detector (128 strips with 100 μm strip pitch) was mounted at the arm of laboratory X-ray diffractometer with 230 mm instrument radius. With the use of a LaB6 standard sample we demonstrate the angular resolution of 0.05° at low angles for classical Bragg-Brentano configuration. Experiments with a large LiF single crystal makes it possible to experimentally determine the detector limit range of linearity (30 000 cps/strip) and maximum counting range (100 000 cps/strip).
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment - Volume 551, Issue 1, 1 October 2005, Pages 73-77
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment - Volume 551, Issue 1, 1 October 2005, Pages 73-77
نویسندگان
Jacek SÅowik, Andrzej ZiÄba,