کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
11005904 1496795 2018 12 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
A resistor network simulation model for laser-scanning photo-current microscopy to quantify low conductance regions in organic thin films
ترجمه فارسی عنوان
یک مدل شبیه سازی شبکه مقاومت برای لیزر اسکن میکروسکوپ تصویری فعلی برای تعیین مناطق هدایت کم در فیلم های نازک آلی
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی (عمومی)
پیش نمایش مقاله
یک مدل شبیه سازی شبکه مقاومت برای لیزر اسکن میکروسکوپ تصویری فعلی برای تعیین مناطق هدایت کم در فیلم های نازک آلی
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Organic Electronics - Volume 62, November 2018, Pages 474-480
نویسندگان
, , , , ,