کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
11016519 1777112 2018 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
A power cycling degradation inspector of power semiconductor devices
ترجمه فارسی عنوان
بازرس ضریب قدرت دوچرخه سواری دستگاه های نیمه هادی قدرت
ترجمه چکیده
ما یک تجزیه و تحلیل شکست را بر اساس نظارت بر زمان واقعی دستگاه های قدرت تحت تست شتاب پیشنهاد کرده ایم. نظارت زمان واقعی قادر به تجسم مکانیسم است که منجر به شکست با به دست آوردن تغییر ساختار در داخل دستگاه در حوزه زمان با رزولوشن فضایی بالا است. در این مقاله، یک ابزار تحلیلی جدید بر اساس مفهوم تجزیه و تحلیل شکست ارائه شده ارائه شده است. عملکرد اساسی این ابزار عبارتند از: (1) کنترل استرس قدرت، (2) بازرسی غیر مخرب و (3) گردش آب. یک سیستم کنترل قدرت استرس اصلی و یک سیستم میکروسکوپ صوتی اسکن شده سفارشی، ما را در بازرسی غیر مخرب در داخل دستگاه تحت آزمایش دوچرخه سواری قدرت ما را فعال کنید. این ابزار مزیت بزرگی را به ویژه برای نظارت بر مکانیزم های شکست بدون نیاز به باز کردن ماژول نشان می دهد.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
چکیده انگلیسی
We have proposed a failure analysis based on a real-time monitoring of power devices under acceleration test. The real-time monitoring enables to visualize the mechanism that leads to a failure by obtaining the change of structure inside the device in time domain with high spatial resolution. In this paper, we presented a new analytical instrument based on the proposed failure analysis concept. The essential functions of this instrument are (1) power stress control, (2) non-destructive inspection and (3) water circulation. An original design power-stress control system and a customized scanning acoustic microscopy system enable us a non-destructive inspection inside the device under power cycling test. This instrument exhibits a great advantage especially to monitor failure mechanisms without having to open the module.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volumes 88–90, September 2018, Pages 458-461
نویسندگان
, ,