کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
1481734 991538 2012 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Ambipolar a-SiGe:H thin-film transistors fabricated at 200 °C
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Ambipolar a-SiGe:H thin-film transistors fabricated at 200 °C
چکیده انگلیسی
► Ambipolar characteristics of a-SiGe:H TFTs fabricated at 200 °C were obtained. ► Subthreshold slope for both regions is an improvement for low-temperature TFTs. ► Spin-On Glass as the gate insulator improved the insulator-semiconductor interface. ► a-SiGe:H film has a higher Density of States due to the incorporation of Ge.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Non-Crystalline Solids - Volume 358, Issue 17, 1 September 2012, Pages 2340-2343
نویسندگان
, , , , , , , ,