کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1482419 | 1510511 | 2009 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Planar chalcogenide quarter wave stack filter for near-infrared
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
73.21.Ac07.60.Fs77.84.Bw - 77.84 دلار78.66.−w - 78.66.-wII–VI Semiconductors - II-VI نیمه هادی هاSTEM/TEM - STEM / TEMEllipsometry - الیپسومتریInfrared properties - خصوصیات مادون قرمزOptical spectroscopy - طیف سنجی نوریInfrared glasses - عینک مادون قرمزFilms and coatings - فیلم ها و پوشش هاAmorphous semiconductors - نیمه هادی آمورفChalcogenides - کلوکوژنزها
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
A quarter wave stack dielectric filter with normal incidence pass band in near-infrared range was prepared from alternating high index contrast chalcogenide films. The prepared filter consists of a low index Ge-S spacer layer surrounded by two 4.0 pairs Sb-Se/Ge-S reflectors. Films were deposited using flash and thermal evaporation techniques. After deposition, the filter was annealed at 165 °C for 1 h. Optical reflectivity measurements of the annealed filter revealed a â¼63% normal incidence passband near 1540 nm. An â¼80% passband was recorded after illumination of the filter by the light with s-polarization at angles 35°, 45° and 55°, while its position shifted to 1451, 1476 and 1505 nm, respectively. A â¼75% passband appeared near 1436, 1467 and 1498 nm in response to illumination of the filter by the light with p-polarization at the same angles. The angular dependence of the reflectivity of dielectric multilayer can be exploited for filtering of incident light.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Non-Crystalline Solids - Volume 355, Issues 28â30, 15 August 2009, Pages 1521-1525
Journal: Journal of Non-Crystalline Solids - Volume 355, Issues 28â30, 15 August 2009, Pages 1521-1525
نویسندگان
T. Kohoutek, J. Orava, J. Prikryl, T. Wagner, Mil. Vlcek, P. Knotek, M. Frumar,