کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1485469 | 1510543 | 2007 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Tunneling injection temperature dependence in EEPROM cell
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
In this paper we propose a new model of the EEPROM tunnel capacitance that takes into account temperature dependence. For this purpose, non-quasi-static C(V) measurements are made in order to extract the tunnel capacity physical parameters. Temperature dependence of the interface state density occupation was evaluated. Simulation of surface potential with temperature variation was implemented. We propose a complete electrical simulation of tunnel capacitance with temperature dependence. Finally, temperature EEPROM cell working simulations are presented.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Non-Crystalline Solids - Volume 353, Issues 5â7, 1 April 2007, Pages 648-652
Journal: Journal of Non-Crystalline Solids - Volume 353, Issues 5â7, 1 April 2007, Pages 648-652
نویسندگان
Y. Zahi, R. Laffont, F. Lalande, S. Boutahar, R. Bouchakour,