کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
1485711 991669 2007 5 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Spectrometric and ellipsometric studies of (1 − x)TiO2 · xLn2O3 (Ln = Nd, Sm, Gd, Er, Yb) thin films
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Spectrometric and ellipsometric studies of (1 − x)TiO2 · xLn2O3 (Ln = Nd, Sm, Gd, Er, Yb) thin films
چکیده انگلیسی
Spectrometric and ellipsometric studies of (1 − x)TiO2 · xLn2O3 (Ln = Nd, Sm, Gd, Er, Yb; x = 0.33, 0.5) thin films at room temperature were performed. The obtained dispersion dependences of refractive indices are successfully described by the optical-refractometric relation. The dependence of optical pseudogap and refractive indices on composition and molar mass of the films is investigated. The influence of compositional disordering on the energy width of the exponential absorption edge is studied.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Non-Crystalline Solids - Volume 353, Issue 1, 1 January 2007, Pages 31-35
نویسندگان
, , ,